X-Cite®光功率测量系统包括X-Cite®XR2100功率计和X-Cite®XP750物体平面功率传感器。是为测量样本的光功率而设计的，X-Cite®XP750 外形小巧别致，专门设计用于显微镜载物台；既包括正置显微镜也包括倒置显微镜，具有多种功能，可以对 X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光灯光源的输出进行测量，这些光源包括 HBO/汞、金属卤化物灯、氙灯、激光器和发光二极管等。对于一系列广泛的应用和显微镜配置，XP750 都能高效地发挥作用，其功率敏感度级别为 5μW 到 500mW，波长为 320nm 到 750nm。通过全新的 XR2100 和 XP750，研究人员便可以测量样本的光功率，从而在整个实验过程中提供一致且可重复的照明。这款产品远比标准的功率计好得多，因为它能够出色配合载玻片插板并将光传感器放置在物体焦平面上。

XR2100 采用控制键接口，可将功率测量结果轻松储存到自身的单元，或者通过计算机直接下载到可以导出的数据文件。由于研究人员可以方便地从台式计算机管理设置和数据，因此能够同时维护可以导出的数据文件和成像数据，从而提供符合良好实验室规范的完整实验记录。借助全新的 X-Cite® XR2100 和 XP750，研究人员即可通过简明直观、功能强大的测量系统在整个研究实验中实现出色的可重复性和效率。